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Einrichtungen >> Technische Fakultät (TF) >> Department Elektrotechnik-Elektronik-Informationstechnik (EEI) >> Lehrstuhl für Technische Elektronik >>
Untersuchung zur verlustleistungsoptimierten Implementierung von RF-ID Tags in deep submicron CMOS-Technologien für hohe Übertragungsdistanzen

Wurde am 30. April 2004 unterbrochen.
Vertrag bis 30. April 2006. (z. Z. ausgesetzt)
Projektleitung:
Prof. Dr.-Ing. Dr.-Ing. habil. Robert Weigel

Beteiligte:
Dr.-Ing. Kay Seemann

Laufzeit: 1.5.2003 - 30.4.2004

Förderer:
Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen (IIS)

Kontakt:
Seemann, Kay
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